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簡要描述：光譜橢偏儀SENDIRA用于測量薄膜厚度，折射率，消光系數(shù)以及體材料，單層和多層堆疊膜的相關(guān)特性。特別是覆蓋層下面的層在可見范圍內(nèi)是不透明的，現(xiàn)在也可以進(jìn)行測量。同時可以分析材料的組成和大分子基團(tuán)和分子鏈的走向。
產(chǎn)品型號：SENDIRA廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商更新時間：2025-10-20訪 問 量：1256詳細(xì)介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,電子/電池 |
光譜橢偏儀
橢偏振動光譜
利用紅外光譜中分子振動模的吸收帶，可以分析薄膜的組成。此外，載流子濃度可以用傅立葉紅外光譜儀FTIR測量。
傅立葉紅外光譜儀FTIR適用
集成賽默飛世爾Thermo Fisher制造的型號FTIR iS50紅外光譜儀。它也適用于一般的振動光譜。
光譜橢偏儀SENDIRA用于測量薄膜厚度，折射率，消光系數(shù)以及體材料，單層和多層堆疊膜的相關(guān)特性。特別是覆蓋層下面的層在可見范圍內(nèi)是不透明的，現(xiàn)在也可以進(jìn)行測量。同時可以分析材料的組成和大分子基團(tuán)和分子鏈的走向。
SENTECH光譜橢偏儀SENDIRA是專門為紅外應(yīng)用(FTIR)設(shè)計的。緊湊型測量臺包括橢圓儀光學(xué)部件，計算機(jī)控制角度計，水平樣品臺，自動準(zhǔn)直透鏡，商用FTIR和DTGS或MCT探測器。FTIR在400?cm-1 ～6,000?cm-1 (1.7?µm?–?25?µm)光譜范圍內(nèi)提供了的精度和分辨率。
光譜橢偏儀SENDIRA主要用于薄層的振動光譜分析。應(yīng)用范圍從介質(zhì)膜、TCO、半導(dǎo)體膜到有機(jī)膜層。SENDIRA是由SpectraRay/4 軟件操作，另外還提供了FTIR軟件。
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