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綜合薄膜測量軟件 集成的色散模型用于描述所有常用材料的光學特性。利用快速擬合算法，通過改變模型參數(shù)將計算得到的光譜調整到實測光譜。

臺式薄膜探針反射儀 二十年來，SENTECH已經成功地銷售了用于各種應用的薄膜厚度探針FTPadv。這種臺式反射儀的特點是不管在低溫或高溫下，在工業(yè)或研發(fā)環(huán)境中，都能通過遠程或直接控制，對小樣品或大樣品進行實時或在線厚度測量。

反射膜厚儀 我們的反射儀的特點是通過樣品的高度和傾斜調整進行準確的單光束反射率測量，光學布局的高光導允許對n和k進行重復測量，對粗糙表面進行測量以及對非常薄的薄膜進行厚度測量